Avansert karakterisering for å bestemme sammensetning og struktur av faste stoffer med

• optiske mikroskop (pålys, gjennomlys, polarisert lys, osv.)
• elektronmikroskop (scanning-, transmisjons- og mikrosonde) (SEM, TEM, EPMA)
• topografimikroskop ("atomic force"-mikroskop, hvittlysinterferometer) (AFM, WLI)
• røntgen (røntgendiffraksjon og synkrotronstråling)