Faglaget for Materialfysikk har hovedfokus på materialkarakterisering og avansert analyse. Vi bruker og videreutvikler ulike typer instrumenter, fra lysmikroskop og topografimikroskop, via scanningelektronmikroskop og mikrosonde til avanserte transmisjonselektronmikroskop. Vi har også bred erfaring i bruk av synkrotronstråling og røntgenfotoelektronspektroskopi. Faglaget gjør analyser for kolleger i SINTEF, men har også egne prosjekter for å utvikle nye metoder eller å bruke kjente metoder på nye materialer. Teoretiske beregninger og modellering utgjør også en viktig del av arbeidet vårt.

Siden vi har lang erfaring i å undersøke prøver med ulike teknikker, får vi en god del korttidsoppdrag fra ulike bedrifter. Da er det gjerne snakk om å løse et konkret problem, finne ut hvorfor noe gikk galt i produksjonen eller hvorfor en maskindel feilet under bruk. Takket være vår vide erfaring og tilgang til et bredt spekter av instrumenter hos oss selv og i resten av SINTEF, kan vi ta på oss de fleste slike detektivoppgaver.

Forskningsleder: